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測(cè)試負(fù)載板是一種連接測(cè)試設(shè)備與被測(cè)器件的機(jī)械及電路接口，主要應(yīng)用在半導(dǎo)...
探針卡在CP測(cè)試中用于連接測(cè)試機(jī)和Die上的Pad，通常作為L(zhǎng)oadboard的物理接口...
BIB（BURN IN BOARD，老化測(cè)試），完成封裝測(cè)試的IC在特定的工況和時(shí)間內(nèi)老化測(cè)試...
Probe card 的信號(hào)通過(guò)interposer中介層的轉(zhuǎn)換讓Probe head（探針頭）的探針可以接收到信號(hào)...
體測(cè)試板縮略.jpg)
