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            半導體測試板  > probe card
        
      
        
      
            
      probe card
      
        
      
        
      
                    
      
                    
                    
      
        
      
        
      
                
      
                    
      
                        產品簡介
                    
      
                    
      
                        
      探針卡在CP測試中用于連接測試機和Die上的Pad，通常作為Loadboard的物理接口，在某些情況下ProbeCard通過插座或者其它接口電路附加 到Loadboard上。應用：晶元切割前，透過pc可以測試晶圓品質，避免不良產品產生封裝成本。
      
                    
      
                
      
                        
                
      
                    
      
                        應用流程
                    
      
                    
      
                        
      
                    
      
                
      
                            
      
                    
      
                        關鍵能力
                    
      
                    
      
                        
      
                    
      
                
      
                        

        
      
    
      

      






    

    
    
    
    
    
    









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