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      BIB
      
        
      
        
      
                    
      
                    
                    
      
        
      
        
      
                
      
                    
      
                        產(chǎn)品簡介
                    
      
                    
      
                        
      BIB（BURN IN BOARD，老化測試），完成封裝測試的IC在特定的工況和時(shí)間內(nèi)老化測試，以檢驗(yàn)IC的可靠性。BIB就是用于IC老化測試的PCB 板件。
      
                    
      
                
      
                        
                            
      
                    
      
                        關(guān)鍵能力
                    
      
                    
      
                        
      
                    
      
                
      
                        

        
      
    
      

      






    

    
    
    
    
    
    









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