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probe card

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

探針卡在CP測(cè)試中用于連接測(cè)試機(jī)和Die上的Pad，通常作為L(zhǎng)oadboard的物理接口，在某些情況下ProbeCard通過(guò)插座或者其它接口電路附加 到Loadboard上。應(yīng)用：晶元切割前，透過(guò)pc可以測(cè)試晶圓品質(zhì)，避免不良產(chǎn)品產(chǎn)生封裝成本。

應(yīng)用流程

關(guān)鍵能力

更多產(chǎn)品